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課程目標:

-- 了解SPC原理和應用，能夠策劃和推導企業SPC項目的應用

-- 學會利用正態分布和控制圖來更好地理解過程改進過程的方法

-- 掌握建立和運用常規控制圖的實戰技巧

-- 掌握控制圖的解析方法及其改善策略

-- 掌握過程能力研究，計算CP、CPK、PP、PPK及過程PPM的方法

課程內容

一、統計過程控制概述

1.持續可信的品質——CPK

2.統計過程控制的起源與發展

3.SPC基本概念

4.過程控制原理

5.SPC的工具——控制圖

6.SPC的目標

7.SPC的應用及收益

二、SPC統計基礎

1.現代質量管理學的統計觀點

2.概率與隨機現象

3.計量型數據和計數型數據

4.總體與樣本

5.統計量：均值、方差、標準差

6.正態分布——品管核心統計理論

7.用正態分布展示和評價過程

8.過程的位置和分布（離散度）

9.中心極限定理

10.3σ質量與6σ質量

11.六西格瑪（6σ）定義

12.PPM-西格瑪Z數-CPK質量度量換算

三、變異知識

1.變異與波動

2.質量波動的因素分類--- 5M1E

3.特殊原因和共同原因

4.統計控制狀態

5.局部問題和系統改進

6.波動、過程控制和過程能力

四、控制圖原理

1.控制圖樣式

2.兩類錯誤

3.休哈特“3σ原則”

4.分析用控制圖和監控用控制圖

5.常規控制圖的分類

6.統計過程控制原則

7.控制圖 8條判異準則

8.如何選擇控制圖

五、控制圖數據采集

1.為什么要收集數據

2.數據收集計劃

3.如何確定控制項目--關鍵質量特性

4.控制圖數據規模

5.采集控制圖數據的步驟

6.修哈特的“合理子組原則”

7.數據的分層問題

8.控制圖數據的時間序列特性

9.直方圖數據不能做控制圖

六、計量型控制圖

1.Xbar-R圖（均值-極差）

2.Xbar-s 圖（均值-標準差）

3.中位數- R圖（中位數-極差）

4.X－MR 圖（單值-移動極差）

七、計數型控制圖

1.P圖（不合格品率）

2.np圖（不合格品數）

3.c圖（缺陷數）

4.u圖（單位缺陷數）

八、過程能力研究

1.過程能力研究的目的

2.過程能力研究的步驟

3.過程能力的概念：過程能力指數CP和CPK\ 過程性能指數PP和PPK

4.過程短期能力研究與過程長期能力研究

5.過程能力改進:減少普通原因持續改進過程潛力\減少特殊原因持續改進過程表現

6.能力指數計算流程

7.能力指數計算實例

8.過程能力指數研究時機

9.過程能力和過程性能指數計算前提條件

10.設備能力指數Cmk模型建立及計算

11.設備能力研究范圍

12.計算Cmk流程

13.Minitab計算Cmk

九、控制圖使用及策略

1.控制圖運用流程

2.控制圖界限的確定與發布

3.控制圖的記錄

4.對異常點的處置

5.不要混淆控制界限和規格界限

6.過程中心偏離目標的調整策略

7.控制界限的重新計算問題

8.用控制圖確認改善效果

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